主辦單位：訊技光電科技（上海）有限公司 上海訊稷光電科技有限公司 常熟黌論教育咨詢有限公司
授課時(shí)間：2018年6月8日（五）-9日（六）AM 9:00-16:00
授課地點(diǎn)：常熟高新區(qū)湖山路333號(hào)同濟(jì)科技廣場(chǎng)1號(hào)305室
課程講師：訊技光電高級(jí)工程師&行業(yè)專家
課程費(fèi)用：3600（包含課程材料費(fèi)、開票稅金、午餐費(fèi)用）

熱成像定義為產(chǎn)生一個(gè)場(chǎng)景的可視化二維圖像的過程，該圖像依賴于從場(chǎng)景到達(dá)成像儀器孔徑的熱輻射或紅外輻射的差異。熱成像系統(tǒng)通常會(huì)減去背景來增強(qiáng)在紅外場(chǎng)景中變化的對(duì)比度。當(dāng)背景不均勻時(shí)，由于冷反射的存在，可能產(chǎn)生雜散信號(hào)。對(duì)于國(guó)防和安全問題尤為重要，在其中我們可以發(fā)現(xiàn)具有不同熱溫度或輻射率的物體，此時(shí)可以從圖像場(chǎng)景的剩余部分區(qū)分出它們。

自發(fā)熱輻射簡(jiǎn)單描述：每個(gè)作為朗伯發(fā)射器的光學(xué)和機(jī)械結(jié)構(gòu)輻射能量作為它的溫度和輻射率函數(shù)。這些釋放出的能量就是通過光線追跡進(jìn)行模擬；當(dāng)其通過系統(tǒng)傳播時(shí)，這些光線遵循幾何光學(xué)的定律。光線（此時(shí)它們所代表是熱能）聚集在FPA上。使用FRED的圖形用戶界面和它的內(nèi)置腳本語言，我們可以輕松地實(shí)現(xiàn)熱輻射和熱成像。盡管強(qiáng)力的光線追跡同樣是可能的，F(xiàn)RED使用了應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)工程算法的高效運(yùn)算器來實(shí)現(xiàn)熱成像和輻射計(jì)算。使用源自輻射度量學(xué)的技術(shù)，用FRED追跡必要的光線數(shù)量，我們可以高效并精確地完成熱成像、冷反射、雜散光、熱照明均勻性和熱自發(fā)輻射的計(jì)算。

1.基本輻射度量學(xué)-輻射

■ 光通量、功率、光度學(xué)與輻射度量學(xué)
■ 立體角與投射立體角/亮度/強(qiáng)度/BSDF
■ 黑體亮度

2.紅外分析中的光線追跡

■ 構(gòu)建雜散光模型
■ 定義光學(xué)和機(jī)械幾何
■ 定義光學(xué)屬性
■ 光線追跡
■ 重點(diǎn)采樣
■ 使用光線追跡來量化收斂速度
■ 瞄準(zhǔn)散射射線以增加收斂的速度
■ 反向光線追跡

3.多次反射與熱成像

■ 表面鍍膜
■ 表面鍍AR增透膜的仿真
■ 冷反射
■ 熱成像

4. 紅外雜散光抑制和紅外鏡頭設(shè)計(jì)特點(diǎn)
■ 大相對(duì)孔徑
■ 制冷型紅外焦平面探測(cè)器
■ 紅外系統(tǒng)的材料選擇
■ 使用光闌（Lyot stop）
■ 分辨冷反射和場(chǎng)景信號(hào)，使用濾光片
■ 減小孔徑光闌和焦平面間的幾何元件數(shù)量
■ 限制其表面曲率使其在探測(cè)器產(chǎn)生散焦
■ 折射元件表面鍍多層AR膜