主辦單位：訊技光電科技（上海）有限公司 上海訊稷光電科技有限公司 常熟黌論教育咨詢有限公司
授課時間：2018年6月8日（五）-9日（六）AM 9:00-16:00
授課地點：常熟高新區湖山路333號同濟科技廣場1號305室
課程講師：訊技光電高級工程師&行業專家
課程費用：3600（包含課程材料費、開票稅金、午餐費用）

熱成像定義為產生一個場景的可視化二維圖像的過程，該圖像依賴于從場景到達成像儀器孔徑的熱輻射或紅外輻射的差異。熱成像系統通常會減去背景來增強在紅外場景中變化的對比度。當背景不均勻時，由于冷反射的存在，可能產生雜散信號。對于國防和安全問題尤為重要，在其中我們可以發現具有不同熱溫度或輻射率的物體，此時可以從圖像場景的剩余部分區分出它們。

自發熱輻射簡單描述：每個作為朗伯發射器的光學和機械結構輻射能量作為它的溫度和輻射率函數。這些釋放出的能量就是通過光線追跡進行模擬；當其通過系統傳播時，這些光線遵循幾何光學的定律。光線（此時它們所代表是熱能）聚集在FPA上。使用FRED的圖形用戶界面和它的內置腳本語言，我們可以輕松地實現熱輻射和熱成像。盡管強力的光線追跡同樣是可能的，FRED使用了應用標準光學工程算法的高效運算器來實現熱成像和輻射計算。使用源自輻射度量學的技術，用FRED追跡必要的光線數量，我們可以高效并精確地完成熱成像、冷反射、雜散光、熱照明均勻性和熱自發輻射的計算。

1.基本輻射度量學-輻射

■ 光通量、功率、光度學與輻射度量學
■ 立體角與投射立體角/亮度/強度/BSDF
■ 黑體亮度

2.紅外分析中的光線追跡

■ 構建雜散光模型
■ 定義光學和機械幾何
■ 定義光學屬性
■ 光線追跡
■ 重點采樣
■ 使用光線追跡來量化收斂速度
■ 瞄準散射射線以增加收斂的速度
■ 反向光線追跡

3.多次反射與熱成像

■ 表面鍍膜
■ 表面鍍AR增透膜的仿真
■ 冷反射
■ 熱成像

4. 紅外雜散光抑制和紅外鏡頭設計特點
■ 大相對孔徑
■ 制冷型紅外焦平面探測器
■ 紅外系統的材料選擇
■ 使用光闌（Lyot stop）
■ 分辨冷反射和場景信號，使用濾光片
■ 減小孔徑光闌和焦平面間的幾何元件數量
■ 限制其表面曲率使其在探測器產生散焦
■ 折射元件表面鍍多層AR膜