第一天課程簡(jiǎn)介：
1. 了解測(cè)量誤差的分析以及數(shù)據(jù)處理的方法；了解目視儀器的對(duì)準(zhǔn)與調(diào)焦誤差以及光學(xué)測(cè)量基本部件的工作原理；了解光學(xué)玻璃主要光學(xué)性能參數(shù)測(cè)量的方法；了解光學(xué)零部件的基本量的測(cè)量方法；了解光學(xué)系統(tǒng)基本特性參量的測(cè)量方法；了解光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)檢驗(yàn)與評(píng)價(jià)、光學(xué)系統(tǒng)雜光與透射比的檢測(cè)以及光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量的基本方法。
2.理解各種測(cè)量方法的測(cè)量原理以及誤差的來(lái)源。
3.掌握對(duì)準(zhǔn)與調(diào)焦的含義以及常見(jiàn)觀測(cè)系統(tǒng)的對(duì)準(zhǔn)與調(diào)焦誤差求取；掌握平行光管的調(diào)校方法及精度分析；能夠?qū)Ω鞣N測(cè)量方法進(jìn)行精度分析。
課程大綱：
1. 誤差理論基本知識(shí)
1.1主要包括測(cè)量中誤差分析的理論基本知識(shí)，
1.2測(cè)量過(guò)程中數(shù)據(jù)處理分析方法介紹；
1.3介紹目視儀器的對(duì)準(zhǔn)與調(diào)焦誤差。
2. 光學(xué)元件檢測(cè)基礎(chǔ)
2.1光學(xué)檢測(cè)中常用的光源及接收器介紹；
2.2光學(xué)材料主要性能與指標(biāo)及檢測(cè)儀器介紹；
2.3光學(xué)檢測(cè)中的典型部件及儀器介紹。
3. 光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)檢驗(yàn)與評(píng)價(jià)
3.1分辨率的測(cè)試
3.2調(diào)制傳遞函數(shù)及測(cè)量方法介紹
3.3波像差評(píng)價(jià)光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量
3.4點(diǎn)列圖及包圍圓能量介紹
3.5光學(xué)系統(tǒng)雜光與透射比的檢測(cè)介紹
4. 光束準(zhǔn)直的檢測(cè)技術(shù)
4.1光束準(zhǔn)直部件及儀器介紹
4.2光束準(zhǔn)直性的檢測(cè)技術(shù)
5. 移相干涉檢測(cè)技術(shù)
5.1干涉測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ)
5.2常見(jiàn)干涉儀介紹
5.3 移相干涉檢測(cè)技術(shù)介紹
6. 光學(xué)元件面形偏差的檢測(cè)
6.1面形偏差的基本概念及檢測(cè)方法概述
6.2波面的數(shù)字指標(biāo)介紹
6.3平面及球面面形偏差檢測(cè)
6.4非球面及自由曲面檢測(cè)簡(jiǎn)介
7. 其他測(cè)量技術(shù)
第二天課程簡(jiǎn)介：
介紹當(dāng)前世界主流顯微測(cè)量及成像方法與儀器，重點(diǎn)研討共焦顯微、白光干涉等測(cè)量原理和發(fā)展趨勢(shì)，介紹三維顯微測(cè)量的相關(guān)國(guó)際、國(guó)家測(cè)量/計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)及應(yīng)用。
課程大綱：
1.光學(xué)顯微鏡分類及介紹
主要包括激光共聚焦顯微鏡、近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡、金相顯微鏡及各種工業(yè)檢測(cè)光學(xué)顯微鏡的功能特點(diǎn)介紹；重點(diǎn)介紹激光共聚焦顯微鏡；以及光學(xué)顯微鏡的性能參數(shù)分析。
2.主流顯微測(cè)量原理及成像方法
主要介紹顯微成像原理及成像方法的應(yīng)用。
3.共焦顯微測(cè)量技術(shù)
重點(diǎn)研討共焦顯微測(cè)量技術(shù)的原理及應(yīng)用。
4.白光干涉測(cè)量技術(shù)
重點(diǎn)研討白光干涉測(cè)量技術(shù)的原理及應(yīng)用。
5.真實(shí)商業(yè)顯微鏡的模擬仿真分析
高數(shù)值孔徑的真實(shí)商業(yè)顯微鏡的幾何光學(xué)模擬（Ray tracing），并輔以案例；
以及高數(shù)值孔徑的真實(shí)商業(yè)透鏡的矢量建模，并利用數(shù)值的計(jì)算的方法，快速計(jì)算
求得帶有像差和實(shí)驗(yàn)誤差的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)（PSF）分布，并輔以案例。
6.三維顯微測(cè)量的相關(guān)國(guó)際、國(guó)家測(cè)量/計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)及應(yīng)用
7.Q&A
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