時間地點：

主辦單位：訊技光電科技（上海）有限公司 常熟黌論教育咨詢有限公司
授課時間：2018年8月30日（四）-31日（五） AM 9:00-16:00
授課地點：常熟高新技術產業開發區湖山路333號同濟科技廣場1幢305室
課程費用：3600元 （包含課程材料費、開票稅金、午餐費用）
授課講師：訊技光電高級工程師

第一天課程簡介：

1. 了解測量誤差的分析以及數據處理的方法；了解目視儀器的對準與調焦誤差以及光學測量基本部件的工作原理；了解光學玻璃主要光學性能參數測量的方法；了解光學零部件的基本量的測量方法；了解光學系統基本特性參量的測量方法；了解光學系統像質檢驗與評價、光學系統雜光與透射比的檢測以及光學傳遞函數測量的基本方法。
2.理解各種測量方法的測量原理以及誤差的來源。
3.掌握對準與調焦的含義以及常見觀測系統的對準與調焦誤差求取；掌握平行光管的調校方法及精度分析；能夠對各種測量方法進行精度分析。

課程大綱：
1. 誤差理論基本知識
1.1主要包括測量中誤差分析的理論基本知識，
1.2測量過程中數據處理分析方法介紹；
1.3介紹目視儀器的對準與調焦誤差。
2. 光學元件檢測基礎
2.1光學檢測中常用的光源及接收器介紹；
2.2光學材料主要性能與指標及檢測儀器介紹；
2.3光學檢測中的典型部件及儀器介紹。
3. 光學系統像質檢驗與評價
3.1分辨率的測試
3.2調制傳遞函數及測量方法介紹
3.3波像差評價光學系統的成像質量
3.4點列圖及包圍圓能量介紹
3.5光學系統雜光與透射比的檢測介紹
4. 光束準直的檢測技術
4.1光束準直部件及儀器介紹
4.2光束準直性的檢測技術
5. 移相干涉檢測技術
5.1干涉測量技術基礎
5.2常見干涉儀介紹
5.3 移相干涉檢測技術介紹
6. 光學元件面形偏差的檢測
6.1面形偏差的基本概念及檢測方法概述
6.2波面的數字指標介紹
6.3平面及球面面形偏差檢測
6.4非球面及自由曲面檢測簡介
7. 其他測量技術

第二天課程簡介：
介紹當前世界主流顯微測量及成像方法與儀器，重點研討共焦顯微、白光干涉等測量原理和發展趨勢，介紹三維顯微測量的相關國際、國家測量/計量標準及應用。

課程大綱：
1.光學顯微鏡分類及介紹
主要包括激光共聚焦顯微鏡、近場掃描光學顯微鏡、金相顯微鏡及各種工業檢測光學顯微鏡的功能特點介紹；重點介紹激光共聚焦顯微鏡；以及光學顯微鏡的性能參數分析。
2.主流顯微測量原理及成像方法
主要介紹顯微成像原理及成像方法的應用。
3.共焦顯微測量技術
重點研討共焦顯微測量技術的原理及應用。
4.白光干涉測量技術
重點研討白光干涉測量技術的原理及應用。
5.真實商業顯微鏡的模擬仿真分析
高數值孔徑的真實商業顯微鏡的幾何光學模擬（Ray tracing），并輔以案例；
以及高數值孔徑的真實商業透鏡的矢量建模，并利用數值的計算的方法，快速計算
求得帶有像差和實驗誤差的點擴散函數（PSF）分布，并輔以案例。
6.三維顯微測量的相關國際、國家測量/計量標準及應用
7.Q&A